X射線吸收譜（XAS）是一種基于同步輻射光源的先進(jìn)分析技術(shù)，通過測量物質(zhì)對X射線的吸收特性，揭示原子局域電子態(tài)及幾何結(jié)構(gòu)信息。其核心原理可分解為物理過程與能量分區(qū)兩大維度：
物理過程：電子躍遷與散射干涉
當(dāng)X射線能量達(dá)到原子內(nèi)層電子（如K、L層）的電離能時，電子被激發(fā)為光電子，形成吸收邊的突躍。光電子以波函數(shù)形式向外傳播，若遇到近鄰原子會發(fā)生彈性散射（背散射），散射波與出射波在吸收原子處干涉，導(dǎo)致吸收系數(shù)隨能量周期性振蕩。這一過程可通過朗伯-比爾定律定量描述：吸收系數(shù)μ(E)與樣品厚度d、入射強(qiáng)度I?和透射強(qiáng)度I的關(guān)系為I=I0⋅e−μ(E)d。
能量分區(qū)：XANES與EXAFS的協(xié)同解析
X射線吸收近邊結(jié)構(gòu)（XANES）
聚焦吸收邊10eV至邊后50eV的強(qiáng)振蕩區(qū)域，反映光電子與近鄰原子的多重散射效應(yīng)。其譜圖特征（如邊前峰、肩峰）直接關(guān)聯(lián)吸收原子的電子態(tài)密度分布，例如通過吸收邊位置偏移可定量分析元素價態(tài)變化（如Fe²?與Fe³?的區(qū)分），邊前峰的存在則揭示未占據(jù)分子軌道信息。
擴(kuò)展X射線吸收精細(xì)結(jié)構(gòu)（EXAFS）
覆蓋吸收邊后50-1000eV的弱振蕩區(qū)域，源于光電子的單次散射效應(yīng)。通過傅里葉變換將振蕩信號轉(zhuǎn)換為徑向分布函數(shù)，可精確獲取配位原子鍵長（精度達(dá)0.01Å）、配位數(shù)及無序度等信息。例如，在鋰離子電池材料研究中，EXAFS可揭示過渡金屬（如Ni、Co）在充放電過程中的配位環(huán)境演變。
實(shí)驗(yàn)方法：多模式適配與原位表征
透射模式
適用于高濃度樣品（如粉末、薄膜），通過測量入射與透射X射線強(qiáng)度比計算吸收系數(shù)。需控制樣品厚度以避免自吸收效應(yīng)，常用于晶體、非晶態(tài)及液態(tài)樣品的靜態(tài)分析。
熒光模式
利用目標(biāo)原子受激后發(fā)射的熒光信號強(qiáng)度反推吸收量，適用于低濃度或單原子體系（如催化劑表面活性位點(diǎn)）。例如，在燃料電池Pt催化劑研究中，熒光模式可精準(zhǔn)定位表面Pt原子的配位狀態(tài)。
原位/operando技術(shù)
結(jié)合高壓、高低溫或電化學(xué)環(huán)境，實(shí)時追蹤材料在反應(yīng)過程中的結(jié)構(gòu)動態(tài)。例如，在電催化CO?還原研究中，原位XAS可揭示催化劑活性位點(diǎn)的價態(tài)變化與配位重構(gòu)機(jī)制。
技術(shù)優(yōu)勢與典型應(yīng)用
XAS對樣品形態(tài)無嚴(yán)格要求（粉末、液體、氣體均可），且不破壞樣品，在材料科學(xué)、能源存儲、環(huán)境監(jiān)測等領(lǐng)域應(yīng)用廣泛。例如，在稀土摻雜半導(dǎo)體材料研究中，XAS可同時解析局域結(jié)構(gòu)畸變與電子態(tài)分布；在生物醫(yī)學(xué)領(lǐng)域，XAS可表征金屬蛋白（如血紅素）中金屬離子的配位環(huán)境，為藥物設(shè)計提供結(jié)構(gòu)依據(jù)。
通過XANES與EXAFS的協(xié)同解析，結(jié)合透射、熒光及原位實(shí)驗(yàn)?zāi)Ｊ剑琗AS已成為揭示材料原子尺度結(jié)構(gòu)-性能關(guān)系的關(guān)鍵工具，推動著從基礎(chǔ)研究到工業(yè)應(yīng)用的跨越式發(fā)展。
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